Oxford X-MET5100

L’analizzatore portatile XRF, Oxford X-MET5100 è stato sostituito dal nuovo X-MET 7500. X-MET5100 combina due tecnologie sviluppate da Oxford Instruments che lo rendono unico; un rivelatore a stato solido Silicon Drifted Detector (SDD) e un potente ed affidabile Tubo RX a 45 kV. Queste due...

Oxford X-Strata 980

- Oxford X-Strata 980 Lo X-Strata 980 è uno strumento progettato per la misura dello spessore di coatings metallici e della concentrazione di elementi in traccia. E’ uno spettrometro XRF in grado di quantificare gli elementi RAEE (RoHS, IEC 62321) e di misurare spessori multipli di coatings secondo...

Oxford CMI 243

- Oxford CMI 243 Il misuratore di spessori Oxford CMI 243 è uno strumento versatile progettato per la misura dello spessore di rivestimenti metallici su substrati in ferro come, ad esempio, lo strato di zincatura. Il CMI 243 usa una sola sonda e non necessita di sonde multiple o standards per la...

Oxford CMI 760

Il CMI760 è uno strumento da banco adatto alla misura dello spessore di Cu su diverse superfici e integra la sonda SRP4 facilmente sostituibile in caso di rottura. E’ disponibile un accessorio opzionale che garantisce la misura del rivestimento di Cu sui fori delle schede stampate....

Oxford CMI233

- Oxford CMI233 La configurazione CMI233 permette l’analisi non distruttiva di coatings non-magnetici depositati su substrati magnetici (ferrosi) e di depositi di spessori non-conduttivi su substrati conduttivi (quali Al, Cu, si richiede una conducibilità fino al 100% della scala IACS). Sono disponibili...

Oxford CMI 153

- Oxford CMI 153 Piccolo e versatile, il CMI 153misura lo spessore dei rivestimenti su materiali ferrosi e non ferrosi in maniera semplice. Il CMI153 non necessita di calibrazioni e neanche di particolare training per l’operatore. Il CMI 153 rileva il tipo di substrato e seleziona automaticamente il...

Oxford CMI 900

  - Oxford CMI 900 Il misuratore di spessori Oxford CMI 900 è uno strumento pensato e progettato per misurare lo spessore e/o la composizione chimica di coatings, rivestimenti e films. Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio.Lo strumento é conforme alle...

Oxford MDX1000

Spettrometro WDXRF simultaneo, media potenza (200W) Robusto spettrometro simultaneo WD-XRF per analisi routinarie. Ideale per grossi carichi di lavoro, 7 giorni alla settimana, 24 ore su 24 nei laboratri industriali. . . E’ l’unico spettrometro al mondo che può utilizzare entrambe le tecniche...