Oxford Serie X-MET7000

La nuova serie degli analizzatori portatile XRF X-MET7000 è progettata per garantire alte prestazioni ed affidabilità, offrendo analisi veloci di materiali e bassi livelli di rilevabilità degli elementi di interesse. La serie Oxford X-MET7000 è adatta per: Positive material Identification (PMI); Cernita...

Oxford X-Supreme8000

- Oxford X-Supreme8000 X-Supreme 8000  è un compatto e potente spettrometro da banco a Fluorescenza di Raggi X in Dispersione di Energia (EDXRF). E’  destinato soprattutto al controllo di qualità dei processi di produzione industriale e viene fornito ottimizzato a pacchetto completo per...

Oxford X-MET5100

L’analizzatore portatile XRF, Oxford X-MET5100 è stato sostituito dal nuovo X-MET 7500. X-MET5100 combina due tecnologie sviluppate da Oxford Instruments che lo rendono unico; un rivelatore a stato solido Silicon Drifted Detector (SDD) e un potente ed affidabile Tubo RX a 45 kV. Queste due...

Oxford X-Strata 980

- Oxford X-Strata 980 Lo X-Strata 980 è uno strumento progettato per la misura dello spessore di coatings metallici e della concentrazione di elementi in traccia. E’ uno spettrometro XRF in grado di quantificare gli elementi RAEE (RoHS, IEC 62321) e di misurare spessori multipli di coatings secondo...

Oxford CMI 900

  - Oxford CMI 900 Il misuratore di spessori Oxford CMI 900 è uno strumento pensato e progettato per misurare lo spessore e/o la composizione chimica di coatings, rivestimenti e films. Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio.Lo strumento é conforme alle...

Oxford MDX1000

Spettrometro WDXRF simultaneo, media potenza (200W) Robusto spettrometro simultaneo WD-XRF per analisi routinarie. Ideale per grossi carichi di lavoro, 7 giorni alla settimana, 24 ore su 24 nei laboratri industriali. . . E’ l’unico spettrometro al mondo che può utilizzare entrambe le tecniche...