Oxford X-MET5100

Il nuovo analizzatore portatile XRF, Oxford X-MET5100, porta le possibilità applicative di uno spettrometro portatile a livelli mai raggiunti ed impensabili fino a poco tempo fa. X-MET5100 combina due tecnologie sviluppate da Oxford Instruments che lo rendono unico; un rivelatore a stato solido Silicon...

Oxford X-Strata 980

- Oxford X-Strata 980 Lo X-Strata 980 è uno strumento progettato per la misura dello spessore di coatings metallici e della concentrazione di elementi in traccia. E’ uno spettrometro XRF in grado di quantificare gli elementi RAEE (RoHS, IEC 62321) e di misurare spessori multipli di coatings secondo...

Oxford CMI 243

- Oxford CMI 243 Il misuratore di spessori Oxford CMI 243 è uno strumento versatile progettato per la misura dello spessore di rivestimenti metallici su substrati in ferro come, ad esempio, lo strato di zincatura. Il CMI 243 usa una sola sonda e non necessita di sonde multiple o standards per la...

Oxford CMI 511

Il CMI511 è uno strumento portatile e robusto, capace di misurare istantaneamente lo spessore di Cu dei fori piatti in schede elettroniche prima e dopo incisione. Il CMI511 lavora bene con schede elettroniche sia a singolo che doppio strato oltre che attraverso resistenze in stagno e/o stagno/piombo. Una...

Oxford CMI233

- Oxford CMI233 La configurazione CMI233 permette l’analisi non distruttiva di coatings non-magnetici depositati su substrati magnetici (ferrosi) e di depositi di spessori non-conduttivi su substrati conduttivi (quali Al, Cu, si richiede una conducibilità fino al 100% della scala IACS). Sono disponibili...

Oxford CMI 153

- Oxford CMI 153 Piccolo e versatile, il CMI 153misura lo spessore dei rivestimenti su materiali ferrosi e non ferrosi in maniera semplice. Il CMI153 non necessita di calibrazioni e neanche di particolare training per l’operatore. Il CMI 153 rileva il tipo di substrato e seleziona automaticamente il...

Oxford CMI 900

  - Oxford CMI 900 Il misuratore di spessori Oxford CMI 900 è uno strumento pensato e progettato per misurare lo spessore e/o la composizione chimica di coatings, rivestimenti e films. Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio.Lo strumento é conforme alle...

Oxford X-MET5000

  L’analizzatore XRF portatile per l’analisi dei metalli. Nell’Aprile 2008 Oxford Instruments ha iniziato la produzione di un robusto analizzatore portatile a Fluorescenza di Raggi X (XRF) per analisi estremamente affidabili ed accurate. L’X-MET5000 rappresenta la quarta generazione...