Oxford CMI233

Oxford CMI233

– Oxford CMI233

CMI233La configurazione CMI233 permette l’analisi non distruttiva di coatings non-magnetici depositati su substrati magnetici (ferrosi) e di depositi di spessori non-conduttivi su substrati conduttivi (quali Al, Cu, si richiede una conducibilità fino al 100% della scala IACS).

Sono disponibili tre versioni CMI233, tutti completi di box di
protezione e di un set di campioni tracciabili NIST.:

  • CMI233E: versione con sonda Eddy Current ECP;
  • CMI233M: versione con sonda ad Induzione Magnetica SMP-2;
  • CMI233Dual: versione con sonde Eddy Current ECP e ad Induzione Magnetica SMP-2.

Caratteristiche

  • La sonda Eddy Current ECP è conforme alle norme ASTM B244 & B259, DIN 50984, ISO 2360 e BS 5411 Parte 3.
  • La sonda Magnetic Induction SMP-2 è conforme alle norme ASTM B499 & B530, DIN 50981, ISO 2178 e BS 5411 Parti 9 & 11.
  • Lo strumento è dotato di una tastiera a 16 tasti impermeabili ed alimentato da una batteria a 9V.
  • Le misure avvengono in automatico o in modo continuo.
  • L’opzione di pre-analisi compensa per i diversi tipi di substrato garantendo ottima ripetibilità e riproducibilità.
  • La capacità della memoria interna consente la raccolta di oltre 12’000 risultati.
  • E’ possibile l’analisi statistica dei risultati con il calcolo della media, standard deviation, valore minimo e massimo.
    Con l’uso di una stampante seriale è possibile la visualizzazione di istogrammi e il valore di capacità di processo Cpk.
  • I dati possono essere trasferiti a PC attraverso una porta seriale RS232.

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