Il misuratore di spessori Oxford CMI 900 è stato sostituito dal nuovo Oxford X-Strata 920.
– Oxford CMI 900
Il misuratore di spessori Oxford CMI 900 è uno strumento pensato e progettato per misurare lo spessore e/o la composizione chimica di coatings, rivestimenti e films.
Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio.Lo strumento é conforme alle normative ISO 3487, ASTM B568 e DIN 50987.
L’Oxford CMI 900 usa la tecnica analitica ED XRF: un tubo a raggi X “illumina” il campione opportunamente posizionato;
la presenza e la composizione degli elementi viene “vista” da un rivelatore di raggi X.
L’intensità della “luce X” emessa dal campione è proporzionale allo spessore e/o alla composizione chimica del campione.
Applicazioni
- Misura di spessori di rivestimenti su campioni multi layers;
- analisi chimica;
- Analisi di riporti galvanici;
- Misura dei carati di una doratura;
- Analisi di componenti elettronici.
- Analisi dei bagni galvanici.
Scarica i tipici range di applicazione per l’Oxford CMI 900
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Puntamento laser per allineamento dei raggi X
- Il laser è posizionato a circa 1.3 cm dal piano focale;
- Con un click lo strumento inizia la scansione lungo l’asse z verticale per ottenere la distanza ottimale del campione dal sistema di eccitazione e rivelazione;
- Miglioramento della riproducibilità di posizionamento campione (indipendente dall’operatore).
Calibrazioni
Il CMI 900 utilizza il metodo di calibrazione FP (Fundamental Parameters) ottimizzato. Questo metodo analitico utilizza i principi fisici applicati agli elementi in esame e alle caratteristiche hardware del sistema di eccitazione e di rilevazione.
Il software FP installato nello strumento, calcola lo spessore del rivestimento e la composizione chimica del campione.
I vantaggi di questa metodica possono essere riassunti come segue:
- Facilità di calibrazione:
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- La calibrazione FP copre un largo range di spessori, incluso applicazioni multi-strato;
- Un laboratorio può testare una vasta varietà di campioni. Ciò è particolarmente utile quando nel carico di lavoro sono presenti molti lavori non routinari.
- Standard di calibrazione non necessari;
- Non sempre sono disponibili standard con la stessa matrice del campione da analizzare;
- Quando si dispone di un numero di standard limitato, la calibrazione FP è un mezzo affidabile per analisi quantitative.
- Sono richiesti gli elementi puri componenti gli strati e la base e uno o più standard Oxford a spessore noto. Un solo campione è sufficiente nella maggiore parte dei casi
Con il CMI900 è possibile creare calibrazioni semi-empiriche utilizzando standard a spessore noto inseriti nella metodica FP.
Questi possono essere in possesso al cliente oppure, in opzione, forniti da Oxford Instruments.
L’accuratezza delle misure quantitative è strettamente legata alla qualità degli standards utilizzati per la calibrazione.
Il metodo semi-empirico, costruito con almeno uno standard certificato, garantisce le migliori performance.
Oxford Instruments produce e certifica ottimi standards tracciabili NIST.
Opzione Multi-collimatore
In opzione il CMI900 può anche alloggiare più collimatori.
Queste le possibilità del multi-collimatore:
- Ottimizzazione del fascio primario di raggi X per misurare superficie diverse;
- Con collimatori rettangolari o circolari di dimensioni diverse si possono focalizzare particolari superfici;
- Possono essere installati sino a 6 collimatori.
Specifiche
- Eccitazione: tubo a raggi X con anodo in Tungsteno da 50 W (50 kV, 1 mA).
- Rivelatore: contatore proporzionale a Xe con filtri secondari;
- Digital Pulse Processing: analizzatore digitale a 4096 canali con correzione del tempo morto e pile-up rejection;
- Alimentazione: 215 – 265 V, 50 – 60 Hz
- Condizioni ambientali: da 10 °C a 40 °C;
- Umidità relativa: sino a 98 %;
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E’ disponibile su YouTube un filmato in Inglese dove vedrai
l’Oxford CMI900 all’opera:
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