Oxford X-MET5100

Oxford X-MET5100


x-met5100-at-work-high-resL’analizzatore portatile XRF, Oxford X-MET5100 è stato sostituito dal nuovo X-MET 7500.


X-MET5100 combina due tecnologie sviluppate da Oxford Instruments che lo rendono unico; un rivelatore a stato solido Silicon Drifted Detector (SDD) e un potente ed affidabile Tubo RX a 45 kV.
Queste due tecnologie abbinate forniscono misure estremamente veloci ed estremamente accurate.
Consentono anche l’analisi di elementi leggeri quali Magnesio, Alluminio, e Silicio senza bisogno di accessori quali pompa a vuoto o bombola dell’elio.
Sono veramente notevoli passi avanti nello sviluppo di spettrometri XRF portatili, palmari.
Ispettori PMI, rottamai, ed in particolare l’industria aerospaziale, finalmente potranno disporre di un robusto accessorio analitico atteso da sempre per l’analisi di elementi leggeri.
X-MET5100 assicura risultati tipici da laboratorio di leghe di Alluminio e Titanio, così come base Rame, Nichel ed Acciai dove si richiede anche l’analisi accurata di elementi leggeri.
La possibilità unica di essere calibrato con metodi empirici (con standard primari) permette la tracciabilità dei risultati consentendo la possibilità di certificare le analisi prodotte.
Sono possibili analisi di leghe metalliche in appena 1 secondo !
Elementi tossici sottoposti a restrizioni quali il Piombo nei giocattoli, contaminanti nei terreni, tracce nei minerali, sono ora possibili a velocità impensabili fino ad oggi.

E’ conforme alla norma UNI 11236 per la determinazione dell’oro in leghe orafe.
X-MET5100 completa la produzione cominciata da Oxford Instruments con l’ultimo nato X-MET5000 lanciato ad Aprile 2008 per analisi di routine nei campi e nelle applicazioni più varie.
Entrambi gli strumenti sono stati disegnati per essere robusti, a prova di polvere e di spruzzo.
Infatti Sono entrambi classificati IP54 (NEMA 3)

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Scarica le caratteristiche tecniche x-met5100_technical_specifications_sept-2008

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Corso AIM Ottobre 2010 – Analisi Chimica con Strumenti Portatili – PMI

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