L’X-Strata920 è l’ultimo nato in casa Oxford Instruments (ora Hitachi High-Tech) della linea degli spettrometri XRF da banco per l’analisi e la misura di riporti galvanici e films. Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio. Lo strumento é conforme alle normative ISO 3487, ASTM B568 e DIN 50987.
L’Hitachi High-Tech X-Strata920 usa la tecnica analitica ED XRF: un tubo a raggi X “illumina” il campione opportunamente posizionato; la presenza e la composizione degli elementi viene “vista” da un rivelatore di raggi X.
L’intensità della “luce X” emessa dal campione è proporzionale allo spessore e/o alla composizione chimica del campione.
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Caratteristiche
Applicazioni
- Misura di spessori di rivestimenti su campioni multi layers;
- analisi chimica;
- Analisi di riporti galvanici;
- Misura dei carati di una doratura;
- Analisi di componenti elettronici.
- Analisi dei bagni galvanici.
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Caratteristiche migliorate
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Rispetto alla versione precedente, l’Hitachi High-Tech X-Strata920 presenta migliorie sia a livello hardware che software, semplificandone l’utilizzo da parte degli operatori e aumentandone il grado di sicurezza.
- Design più moderno e più intuitivo, con pulsanti di accensione e spegnimento posizionati sulla parte frontale dello strumento;
- Nuove protezioni hardware su emissione raggi X: chiave di accensione – spegnimento tubo a raggi X; led frontale che indica l’accensione del tubo a raggi X; pulsante di emergenza; sensori di interlock per apertura accidentale camera di misura che, automaticamente “spengono” l’emissione del tubo a raggi X;
- Nuovo preamplificatore con cavi di alta tensione e corrente separati, in grado quindi di ridurre il rumore elettronico con conseguente miglioramento della stabilità di misura;
- Struttura migliorata del cavo ad alta tensione per una migliore protezione all’umidità
- Possibilità di esportare report personalizzati su file Excel;
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Puntamento laser per allineamento del campione
- Il laser è posizionato a circa 1.3 cm dal piano focale;
- Con un click lo strumento inizia la scansione lungo l’asse z verticale per ottenere la distanza ottimale del campione dal sistema di eccitazione e rivelazione;
- Miglioramento della riproducibilità di posizionamento campione (indipendente dall’operatore).
Calibrazioni
L’Hitachi High-TechX-Strata920 utilizza il metodo di calibrazione FP (Fundamental Parameters) ottimizzato. Questo metodo analitico utilizza i principi fisici applicati agli elementi in esame e alle caratteristiche hardware del sistema di eccitazione e di rilevazione.
Il software FP installato nello strumento, calcola lo spessore del rivestimento e la composizione chimica del campione.
I vantaggi di questa metodica possono essere riassunti come segue:
- Facilità di calibrazione:
- La calibrazione FP copre un largo range di spessori, incluse applicazioni multi-strato;
- Un laboratorio può testare una vasta varietà di campioni. Ciò è particolarmente utile quando nel carico di lavoro sono presenti molti lavori non routinari.
- Standard di calibrazione non necessari;
- Non sempre sono disponibili standard con la stessa matrice del campione da analizzare;
- Quando si dispone di un numero di standard limitato, la calibrazione FP è un mezzo affidabile per analisi quantitative.
- Sono richiesti gli elementi puri componenti gli strati e la base e uno o più standard Oxford a spessore noto. Un solo campione è sufficiente nella maggiore parte dei casi
Opzione Multi-collimatore
In opzione l’Hitachi High-Tech X-Strata920 può anche alloggiare più collimatori.
Queste le possibilità del multi-collimatore:
- Ottimizzazione del fascio primario di raggi X per misurare superfici diverse;
- Con collimatori rettangolari o circolari di dimensioni diverse si possono focalizzare particolari superfici;
- Possono essere installati sino a 6 collimatori.
Versioni
Esistono 3 versioni per l’Oxford X-Strata920:
Specifiche
- Range elementi: dal Ti sino all’U
- Eccitazione primaria: tubo a raggi X da 50 W (50 kV, 1 mA)
- Rivelazione: detector proporzionale allo Xe con filtri secondari (fino a 3)
- Digital Pulse Processing: analizzatore digitale a 4096 canali con correzione del tempo morto e pile-up rejection;
- Software: Smartlink FP disponibile anche in italiano;
- Condizioni ambientali di lavoro: da +10 °C a +40 °C, fino al 98% di umidità;
- Alimentazione: 85~130 o 215~265 volts, con frequenza da 47Hz a 63Hz
- Peso: 97 kg
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Scarica la brochure in Inglese per l’Oxford X-Strata920
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