maxxi6_open_200dpi10cmh_l_Misurazione dello spessore di rivestimento e analisi dei materiali rapide, affidabili, non distruttive, ad elevate prestazioni.

Hitachi High-Tech Maxxi 6 è un analizzatore ED-XRF per la misurazione degli spessori di rivestimento e l’ analisi elementare. La misurazione degli spessori di rivestimento, basata sulla fluorescenza a raggi X (XRF), è una tecnica analitica ampiamente accettata e riconosciuta dall’industria. L’analisi ED-XRF è rapida e non distruttiva, non richiede alcuna preparazione del campione ed è in grado di analizzare solidi o liquidi di una vasta gamma di elementi da 13Al a 92U sulla tavola periodica.

Grazie al rilevatore SDD a stato solido ad alta risoluzione ed efficienza, il MAXXI 6 è lo strumento ideale per la misurazione di rivestimenti molto sottili (ad esempio PVD) e per l’analisi di elementi in tracce.

  • o del campione di misura grazie a puntatore laser, videocamera ad alta risoluzione e tavola xy motorizzata e programmabile (opzionale)
  • La tecnologia “USB choice” consente di gestire lo strumento tramite cavo USB collegato ad un PC senza hardware o firmware aggiuntivo.
  • E’ un apparato progettato e realizzato in Germania, garanzia di robustezza e affidabilità a lungo termine
  • L‘ approvazione PTB (Physikalisch Technische Bundesanstalt) garantisce il massimo livello di sicurezza alle radiazioni
  • Il tubo a raggi X, a tecnologia Micro-focus con finestra in Berillio ad elevata affidabilità, combina massima precisione a tempi di misurazione più brevi
Caratteristiche

E’ conforme alle normative ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987, IEC 62321.

Applicazioni

  • Finiture metalliche
    • Resistenza alla corrosionefiniture Metalliche
    • Resistenza all’usura/calore
    • Finiture estetiche
  • Test di conformità
    • Materiali pericolosiTest di conformità
    • Elevata affidabilità
    • Test di conformità RoHS/RAEE/ELV
  • Elettronica
    • Saldabilitàelettronica
    • Contatti elettrici
    • Finiture superficiali
  • Analisi composizionali di leghe metalliche

    • Tenore e Gradoanalisi di composizione
    • Composizione della lega del metallo e identificazione
    • Analisi rapida, non distruttiva di gioielli e altre leghe
  • Energie alternative
    • Celle fotovoltaicheenergie alternative
    • Pannelli solari e celle a combustibile
    • Garantisce l’efficienza e l’uniformità del prodotto

 

Caratteristiche principali

  • Il Detector SDD (Silicon Drift Detector) allo stato dell’arte offre la massima efficienza per tutti gli elementi analizzabili con bassissimi limiti di rilevabilità (LOD)
  • I collimatori multipli ottimizzano il flusso di raggi X, misurando l’area di proprio interesse.
  • L’ampia camera di misura (fino a 500 mm x 450 mm x 170 mm, LxPxA), è in grado di alloggiare una grande varietà di campioni standard o sovradimensionati
  • E’ dotato di una ampia fenditura laterale per analisi di campioni ad ampia superficie, quali schede elettroniche e oggetti larghi e sottili.
  • Posizionamento rapida

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