Oxford X-Strata 980

– Oxford X-Strata 980

X-Strata 980(Fuori Produzione)

Lo X-Strata 980 è uno strumento progettato per la misura dello spessore di coatings metallici e della concentrazione di elementi in traccia. E’ uno spettrometro XRF in grado di quantificare gli elementi RAEE (RoHS, IEC 62321) e di misurare spessori multipli di coatings secondo le normative ISO 3497, ASTM B568 and DIN 50987.

E’ conforme alla norma UNI 11236 per la determinazione dell’oro in leghe orafe.

Applicazioni

  • Misura della composizione e/o spessore di campioni contenenti elementi compresi tra Zolfo (Z=16) e Uranio (Z=92);
  • Analisi di leghe. Fino a 25 elementi simultaneamente;
  • Karatura dell’oro;
  • Analisi di spessori sino a 5 strati (4 + base);
  • Metodo di misura in accordo con le normative ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987, IEC 62321.
  • Coating tipici: Au, Ni, Pd, Cu, Bronzo, Ru, Ag, Rh, Sn ….
  • Basi tipiche: ottone, inox, zama, ferro ….X-Strata 980_1
  • Leghe: Pd-Ni, 80% Pd e 20% Ni
    Sn-Ni; 70% Sn e 20% Ni
    Bronzo; 74% Cu e 19% Sn e 5% Zn
  • Analisi dei bagni galvanici.

Caratteristiche dello X-Strata 980

  • Tubo a Raggi X da 100 Watt. Leader nel settore industriale: grazie alla potenza del tubo, i risultati ottenuti hanno un maggior grado di confidenza, ovvero un errore minore del 33% circa.Inoltre, una più elevata potenza del tubo consente di utilizzare collimatori più piccoli riducendo la superficie di analisi.
  • Pin-diodeRivelatore PIN-diode al Silicio da 25 mm2.Rispetto ai rivelatori proporzionali si hanno enormi vantaggi in termini di:
    • Risoluzione energetica < 250 eV e conseguente miglioramento nell’identificazione degli elementi;
    • Raffreddamento a Peltier: il detector PIN-diode non necessita di azoto liquido, come invece altri detector al Silicio;
    • Area del rivelatore di 25mm2: rivelatore più grande ed efficiente rispetto ai rivelatori di altri strumenti simili.
    • Rapporto segnale rumore >3000: miglior livello di precisione alle basse energie.
  • 5 filtri primari: soppressione selettiva del rumore di fondo.
  • Collimatori multipli:
    • Ottimizzazione della superficie di analisi;
    • Disponibili sino a 4 collimatori: 0.1, 0.2, 0.3, 1.27 mm Ø
  • Base in TiAl: il supporto dei campioni è costituito da Al-Ti che migliora sensibilmente il rapporto segnale – rumore.
  • Computer integrato: lo X-Strata 980 non necessita di PC esterni.
  • Software di calibrazione aperto. I metodi applicativi possono essere costruiti anche dall’operatore e protetti da password.Standards CMI 900
  • Standard con spessori certificati: disponibili campioni di spessori metallici certificati, utili ad eseguire qualsiasi metodo di misura.

Limiti di rivelabilità

Limiti di rivelabilità di elementi tipici RoHS ( in ppm condizione a 100 sec.)

RoHS

 Cr Br Cd Hg Pb
Cu metals 255 N/A 75 N/A 145
Sac Alloys N/A N/A 160 120 110
Aluminum 15 N/A 14 15 5
Cables 4 6 7 7 9
Plastic 6 1 13 3 3

Tipiche performance per applicazioni su spessori di coatings

Spessore Livello di tolleranza (I layer) Livello di tolleranza (II layer) Livello di tolleranza (III layer)
≤ 0.5 micron ± 0.025 micron o migliore ± 0.05 micron o migliore ± 0.075 micron o migliore
> 0.5 micron ± 5% micron o migliore ± 10% o migliore ± 15% o migliore
Composizione Livello di tolleranza (I layer) Livello di tolleranza (II layer)
1 ≈ 99% ± 1 wt % o migliore ± 2 wt % o migliore

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E’ disponibile sul nostro canale YouTube un filmato dove vedrai
l’Oxford X-Strata980 all’opera:

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Scarica la brochure in inglese dell’Oxford X-Strata980

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Scarica la brochure dedicata all’analisi delle leghe preziosepdf-logo2

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Specifiche

  • Eccitazione: tubo a raggi X con anodo in Tungsteno, microfocus da 100 W (50 kV, 2 mA).
  • Rivelatore: Pin-diode da 25 mm2
  • Digital Pulse Processing: analizzatore digitale a 4096 canali con correzione del tempo morto e pile-up rejection;
  • PC integrato nel sistema. Sistema Operativo Windows XP Professional
  • Ottica: 1/2” CMOS-640×480 VGA resolution
  • Base XYZ : 203 x 152 x 216 mm, programmabile
  • altezza massima del campione:
    • 50 mm per campione con base max 305 x 390 mm ;
    • 203 mm per campione con base max 305 x 352 mm ;
  • Alimentazione: 215 – 265 V, 50 – 60 Hz (un solo cavo per tutto il sistema)
  • Condizioni ambientali: da 10° a 40° C; umidità relativa sino al 98%.

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