L’Oxford X-Strata920 è l’ultimo nato in casa Oxford Instruments della linea degli spettrometri XRF da banco per l’analisi e la misura di riporti galvanici e films. Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio. Lo strumento é conforme alle normative ISO 3487, ASTM B568 e DIN 50987.
L’Oxford X-Strata920 usa la tecnica analitica ED XRF: un tubo a raggi X “illumina” il campione opportunamente posizionato; la presenza e la composizione degli elementi viene “vista” da un rivelatore di raggi X.
L’intensità della “luce X” emessa dal campione è proporzionale allo spessore e/o alla composizione chimica del campione.
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Applicazioni

  • Misura di spessori di rivestimenti su campioni multi layers;
  • analisi chimica;
  • Analisi di riporti galvanici;
  • Misura dei carati di una doratura;
  • Analisi di componenti elettronici.
  • Analisi dei bagni galvanici.

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Caratteristiche migliorate
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Rispetto alla versione precedente, l’Oxford X-Strata920 presenta migliorie sia a livello hardware che software, semplificandone l’utilizzo da parte degli operatori e aumentandone il grado di sicurezza.

  • Design più moderno e più intuitivo, con pulsanti di accensione e spegnimento posizionati sulla parte frontale dello strumento;
  • Nuove protezioni hardware su emissione raggi X: chiave di accensione – spegnimento tubo a raggi X; led frontale che indica l’accensione del tubo a raggi X; pulsante di emergenza; sensori di interlock per apertura accidentale camera di misura che, automaticamente “spengono” l’emissione del tubo a raggi X;
  • Nuovo preamplificatore con cavi di alta tensione e corrente separati, in grado quindi di ridurre il rumore elettronico con conseguente miglioramento della stabilità di misura;
  • Struttura migliorata del cavo ad alta tensione per una migliore protezione all’umidità
  • Possibilità di esportare report personalizzati su file Excel;

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Puntamento laser per allineamento del campione

Laser

  • Il laser è posizionato a circa 1.3 cm dal piano focale;
  • Con un click lo strumento inizia la scansione lungo l’asse z verticale per ottenere la distanza ottimale del campione dal sistema di eccitazione e rivelazione;
  • Miglioramento della riproducibilità di posizionamento campione (indipendente dall’operatore).

Calibrazioni

L’Oxford X-Strata920 utilizza il metodo di calibrazione FP (Fundamental Parameters) ottimizzato. Questo metodo analitico utilizza i principi fisici applicati agli elementi in esame e alle caratteristiche hardware del sistema di eccitazione e di rilevazione.

Il software FP installato nello strumento, calcola lo spessore del rivestimento e la composizione chimica del campione.

I vantaggi di questa metodica possono essere riassunti come segue:

  • Facilità di calibrazione:
    • La calibrazione FP copre un largo range di spessori, incluse applicazioni multi-strato;
    • Un laboratorio può testare una vasta varietà di campioni. Ciò è particolarmente utile quando nel carico di lavoro sono presenti molti lavori non routinari.
  • Standard di calibrazione non necessari;
    • Non sempre sono disponibili standard con la stessa matrice del campione da analizzare;
    • Quando si dispone di un numero di standard limitato, la calibrazione FP è un mezzo affidabile per analisi quantitative.
    • Sono richiesti gli elementi puri componenti gli strati e la base e uno o più standard Oxford a spessore noto. Un solo campione è sufficiente nella maggiore parte dei casi

Opzione Multi-collimatore

multicollimatoreIn opzione l’Oxford X-Strata920 può anche alloggiare più collimatori.
Queste le possibilità del multi-collimatore:

  • Ottimizzazione del fascio primario di raggi X per misurare superfici diverse;
  • Con collimatori rettangolari o circolari di dimensioni diverse si possono focalizzare particolari superfici;
  • Possono essere installati sino a 6 collimatori.

Versioni
Esistono 3 versioni per l’Oxford X-Strata920:

X-Strata920 base standard (P920-S): tavola XY fissa ed strumento adatto all’analisi di campioni con altezza non superiore ai 33 mm.
X-Strata920 base miniwell (P920-MWS): regolabile in step da 25.4 mm, questa base a rack è in grado di analizzare campioni a diversa altezza fino ad un massimo di 160 mm.
X-Strata920 base XY motorizzata e programmabile (P920-AM): questa configurazione permette di analizzare in automatico diversi campioni. Utilizzando un mouse o 4 frecce sul software, grazie all’opzione point & click, l’operatore può muoversi sulla tavola XY e scegliere quali campioni misurare.

Specifiche

  • Range elementi: dal Ti sino all’U
  • Eccitazione primaria: tubo a raggi X da 50 W (50 kV, 1 mA)
  • Rivelazione: detector proporzionale allo Xe con filtri secondari (fino a 3)
  • Digital Pulse Processing: analizzatore digitale a 4096 canali con correzione del tempo morto e pile-up rejection;
  • Software: Smartlink FP disponibile anche in italiano;
  • Condizioni ambientali di lavoro: da +10 °C a +40 °C, fino al 98% di umidità;
  • Alimentazione: 85~130 o 215~265 volts, con frequenza da 47Hz a 63Hz
  • Peso: 97 kg

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E’ disponibile su YouTube un filmato dove vedrai l’Oxford X-Strata920 all’opera.

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pdf-logo2 Scarica la brochure in Inglese per l’Oxford X-Strata920

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