Oxford CMI 243

– Oxford CMI 243 Il misuratore di spessori Oxford CMI 243 è uno strumento versatile progettato per la misura dello spessore di rivestimenti metallici su substrati in ferro come, ad esempio, lo strato di zincatura. Il CMI 243 usa una sola sonda e non necessita di...
Hitachi High-Tech CMI 760

Hitachi High-Tech CMI 760

Il CMI760 è uno strumento da banco adatto alla misura dello spessore di Cu su diverse superfici e integra la sonda SRP4 facilmente sostituibile in caso di rottura. E’ disponibile un accessorio opzionale che garantisce la misura del rivestimento di Cu sui fori...
Hitachi High-Tech CMI 563

Hitachi High-Tech CMI 563

Il CMI563 è progettato ad hoc per la misura dello spessore di Cu su fogli rigidi o flessibili, a singola o doppia faccia e su schede PCB multilayer. Il CMI563 è dotato di sonda di misura con tecnologia a microresistenza, tecnologia più adatta ed efficiente per...

Hitachi High-Tech CMI 511

Il CMI511 è uno strumento portatile e robusto, capace di misurare istantaneamente lo spessore di Cu dei fori piatti in schede elettroniche prima e dopo incisione. Il CMI511 lavora bene con schede elettroniche sia a singolo che doppio strato oltre che attraverso...

Hitachi High-Tech CMI233

– Hitachi High-Tech CMI233 La configurazione CMI233 permette l’analisi non distruttiva di coatings non-magnetici depositati su substrati magnetici (ferrosi) e di depositi di spessori non-conduttivi su substrati conduttivi (quali Al, Cu, si richiede una...

Hitachi High-Tech CMI 165

Il CMI 165 è uno spessimetro portatile adatto alla misura di spessori di Cu con compensazione di temperatura. Le misure su Cu possono dipendere fortemente dalla temperatura del campione. Il CMI 165 misura lo spessore di Cu includendo anche gli effetti del gradiente...