Hitachi Hight-Tech Serie X-MET8000

Hitachi Hight-Tech Serie X-MET8000

Ad oggi, niente di più tecnologico si potrebbe immaginare contenuto all’interno di uno Spettrometro ED XRF portatile. Leggerezza, compattezza, durata delle batterie, performance analitiche sempre più simili a quelle di apparati da laboratorio, rendono il nuovo...
Analisi rivestimenti e composizione

Analisi rivestimenti e composizione

Oxford Instruments (ora Hitachi High-Tech), leader nello sviluppo e progettazione di strumentazione da laboratorio, ha implementato la sua gamma di strumenti a raggi X per la misura di rivestimenti galvanici e analisi composizionali di leghe metalliche con 4 nuovi...
Hitachi High-Tech Maxxi 6

Hitachi High-Tech Maxxi 6

Misurazione dello spessore di rivestimento e analisi dei materiali rapide, affidabili, non distruttive, ad elevate prestazioni. Hitachi High-Tech Maxxi 6 è un analizzatore ED-XRF per la misurazione degli spessori di rivestimento e l’ analisi elementare. La...
Hitachi High-Tech X-Strata920

Hitachi High-Tech X-Strata920

L’X-Strata920 è l’ultimo nato in casa Oxford Instruments (ora Hitachi High-Tech) della linea degli spettrometri XRF da banco per l’analisi e la misura di riporti galvanici e films. Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al...
Oxford X-Strata 980

Oxford X-Strata 980

– Oxford X-Strata 980 (Fuori Produzione) Lo X-Strata 980 è uno strumento progettato per la misura dello spessore di coatings metallici e della concentrazione di elementi in traccia. E’ uno spettrometro XRF in grado di quantificare gli elementi RAEE (RoHS,...