La produzione di Spettrometri portatili ED XRF X-MET7000 è terminata nel corso del 2016. L’ X-MET8000, nelle tre versioni Smart,Optimum ed Expert rimane, al momento, l’apparato di riferimento di questa categoria di spettrometri. La nuova serie degli...
– Oxford X-Strata 980 (Fuori Produzione) Lo X-Strata 980 è uno strumento progettato per la misura dello spessore di coatings metallici e della concentrazione di elementi in traccia. E’ uno spettrometro XRF in grado di quantificare gli elementi RAEE (RoHS,...
L’analizzatore portatile XRF, Oxford X-MET5100 è stato sostituito dal nuovo X-MET 7500. X-MET5100 combina due tecnologie sviluppate da Oxford Instruments che lo rendono unico; un rivelatore a stato solido Silicon Drifted Detector (SDD) e un potente ed affidabile...
Il CMI250 è uno spessimetro adatto alla misura di spessori sia con induzione magnetica che con correnti indotte. Automaticamente lo strumento seleziona il tipo di analisi più adatto al campione, scegliendo tra induzione magnetica o correnti indotte. Lo strumento offre...
– Hitachi High-Tech CMI 153 FUORI Produzione: sostituito da CMI 155 e CMI 157 Piccolo e versatile, il CMI 153misura lo spessore dei rivestimenti su materiali ferrosi e non ferrosi in maniera semplice. Il CMI153 non necessita di calibrazioni e neanche di...
Il misuratore di spessori Oxford CMI 900 è stato sostituito dal nuovo Oxford X-Strata 920. – Oxford CMI 900 Il misuratore di spessori Oxford CMI 900 è uno strumento pensato e progettato per misurare lo spessore e/o la composizione chimica di coatings,...
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