Tutti gli spettrometri portatili della serie X-MET3000TX+ sono usciti di produzione nel 2008 e sono stati sostituiti dalle nuove serie X-MET5000 e X-MET5100, X-MET7000, X-MET7500, X-MET8000. Attualmente sono disponibili strumenti ex dimostrativi della serie X-MET3000TX+ praticamente nuovi, a prezzi interessanti.

L’X-MET3000TX+ è uno spettrometro XRF portatile per analisi di elementi chimici in campo, fornito pronto all’uso per le seguenti applicazioni:

 

X-MET3000TX+ nella cernita e il recupero dei metalli. Analizzatore palmare XRF, leggero, per la cernita e l’analisi dei rottami metallici. Il nuovo sensore PentaPIN™ dell’ X-MET3000TX+ permette analisi più rapide e una buona accuratezza anche a basse concentrazioni. Il nuovo sensore è l’evoluzione del supercollaudato detector PentaFET® prodotto e brevettato da Oxford Instruments. La capacità di rilevare basse concentrazioni di elementi di lega è una caratteristica molto apprezzata nell’analisi delle leghe metalliche, anche nel caso in cui si volesse verificare l’assenza di alcuni elementi.
Con una pressione del grilletto, l’X-MET3000TX+ fornisce percentuali e identificazione di leghe rapidissime.
L’uso dell’ X-Met3000TX+ può vantare le seguenti caratteristiche:
· Accuratezza, rapidità e precisione analitica
· Il nuovo detector PentaPIN™ ha ridotto i tempi di cernita
· Nel modo “Identificazione” determina il Grado di una lega in 2-5 secondi
· Quantificazione di elementi preziosi (p.e. Ni, Cu e Mo) in 5 – 10 secondi
· Analizza qualsiasi campione di metallo incognito. Basta puntare, ‘sparare’ e leggere il risultato
· Basse concentrazioni possono essere misurate in appena poco tempo in più (10 secondi)
Un attrezzo robusto e durabile
· X-MET3000TX+ sopporta condizioni atmosferiche estreme e trattamenti rudi. Può essere utilizzato da -15°C a +50°C.
· La sua affidabilità nel tempo è stata certificate
Facile da usare come 1, 2, 3 – basta Puntare, Sparare e Leggere

· Analizza campioni grandi e piccoli, solidi in granuli o trucioli, in movimento o rotanti, anche materiali plastici. Qualunque dimensione e forma dei campioni.
· X-MET3000TX+ auto compensa per la forma e la dimensione dell’oggetto analizzato
· Il nuovo software riduce I tempi di apprendimento
· I risultati possono essere codificati per colore, consentendo l’interpretazione intuitive. Utile nel caso di elementi dannosi o di grado diverso dall’atteso
Quattro modi operativi
· La classica calibrazione empirica (metodo classico da laboratorio)
· Metodo dei Parametri Fondamentali (FP)
· Identificazione diretta dallo spettro
· Metodo PASSA/nonPASSA
Affidabilità dimostrata
· Garanzia di 5 anni per il tubo RX e 2 anni per l’intero strumento

Accessori

Fodero a cinghia
Supporto da banco per X-MET3000TX+

Il nuovo supporto da banco ottimizza le performance del analizzatore portatile se utilizzato in laboratorio o su un banco.
Vantaggi
· Schermatura totale della radiazione
· Precisione di misura migliorata
· Posizionamento del campione più semplice
· Operazioni semplificate per test di :
· Piccole parti metalliche
· Componenti elettronici
· Campioni liquidi o in polvere
X-MET3000TX+ nel Controllo Qualità e verifica dei metalli, PMI

La procedura di Identificazione Positiva dei Materiali PMI (Positive Material Identification) assicura che in un impianto, o in un sistema di processo dove esistono condizioni estreme di esercizio quali temperatura e pressioni elevate, presenza di prodotti corrosivi, venga utilizzato con certezza il giusto materiale in ogni punto dell’impianto. Il PMI è una procedura obbligatoria richiesta dalle principali società di ingegneria nel campo petrolchimico, alimentare, farmaceutico ecc. e da tutte quelle aziende fornitrici di componenti e sensori di processo (p.e. valvole, tubi, sensori ecc.).
Il controllo del PMI, comprende l’intera catena di fornitura dei metalli – l’ispezione delle materie prime, I test durante e alla fine della produra di assemblaggio – Diventerà ancora più importante e necessaria nell’ottica della globalizazione delle produzioni.
Con una pressione del grilletto, l’X-MET3000TX+ fornisce percentuali e identificazione di leghe rapidissime.
Il nuovo sensore PentaPIN™ dell’ X-MET3000TX+ permette analisi più rapide e una buona accuratezza anche a basse concentrazioni. Il nuovo sensore è l’evoluzione del supercollaudato detector PentaFET® prodotto e brevettato da Oxford Instruments. La capacità di rilevare basse concentrazioni di elementi di lega è una caratteristica molto apprezzata nell’analisi delle leghe metalliche, anche nel caso in cui si volesse verificare l’assenza di alcuni elementi.
L’analizzatore deve essere in grado di determinare alcuni elementi di lega a concentrazioni molto basse (p.e. Ti in acciai ad un livello di circa 0.05%) per essere in grado di identificare la lega correttamente.
L’analizzatore adatto per tutte le condizioni, in produzione e su campo
· I materiali da ispezionare possono essere in aree di difficile accesso (p.e. una piattaforma petrolifera)
· L’analizzatore X-MET3000TX+ è alimentato a batterie. Compatto, robusto e possiede ampie dimostrazioni attestanti la sua affidabilità anche in condizioni estreme
· Il materiale da ispezionare può essere caldo (p.e. come un tubo in una caldaia)
· La protezione frontale dell’ X-MET3000TX+ permette la misura di campioni fino alla
temperatura massima di 400°C / 750°F
· Con l’adattatore per l’analisi delle saldature , queste possono essere analizzate senza
vedere il materiale estraneo alla saldatura
Analisi punta e spara accurata, rapida e precisa
· Routine di Identificazione in secondi
· Distinzione delle leghe inox 304/321 in meno di 5 secondi
· Il grado 7/CPTi in 2 secondi
Analizza campioni grandi e piccoli, solidi in granuli o trucioli, in movimento o rotanti – just point and shoot
· Analizza campioni grandi e piccoli, in movimento o rotanti. Qualunque dimensione e forma dei campioni.
· X-MET3000TX+ auto compensa per la forma e la dimensione dell’oggetto analizzato
· Ispezione di tubi, saldature ecc, per verifica di resistenza alla corrosione
· Ispezione di sensori di pressione
· Tempo di analisi di un filo metallico con diametro inferiore 1mm in pochi secondi
· La già estesa libreria delle leghe può essere implementata dall’operatore
· L’operatore può documentare le calibrazioni in memoria

Quattro modi operativi
· La classica calibrazione empirica (metodo classico da laboratorio)
· Metodo dei Parametri Fondamentali (FP)
· Identificazione diretta dallo spettro
· Metodo PASSA/nonPASSA

Affidabilità dimostrata
· Garanzia di 5 anni per il tubo RX e 2 anni per l’intero strumento

X- Supporto da banco per X-MET3000TX+
Il nuovo supporto da banco ottimizza le performance del analizzatore portatile se utilizzato in laboratorio o su un banco.
Vantaggi
· Schermatura totale della radiazione
· Precisione di misura migliorata
· Posizionamento del campione più semplice
· Operazioni semplificate per test di :
· Piccole parti metalliche
· Componenti elettronici
Campioni liquidi o in polvere

 

X-MET3000TXV+ Il nuovo analizzatore XRF portatile per l’analisi dei
rottami di leghe leggere per gli elementi di alto
valore (sostituito dal modello X-MET5100 )

Oxford Instruments ha lanciato un nuovo, portatile analizzatore X-Ray Fluorescence (XRF) dotato di pompa a vuoto per la cernita rapida di elementi di alto valore per l’industria del recupero dei metalli. L’ X-MET3000TXV+ può ora misurare il Silicio ed il Magnesio in leghe di Alluminio e l’Alluminio in leghe di Titanio precedentemente non misurabili con sistemi XRF portatili. Con una pressione del pulsante grilletto, il leggero X-MET3000TXV+ fornisce risultati ancora più rapidi per la accurata identificazione della lega oltre che una dettagliata analisi quantitativa della composizione dei campioni.
Con questo sistema non viene fatto uso di contenitori di gas compresso da trasportare. Si eliminano i costi di consumabili. Inoltre il numero d’analisi non è limitato dall’autonomia delle bombole. La pompa a vuoto è piccola ed efficiente e non ha valvole esterne che potrebbero bloccarsi in condizioni polverose.
La nuova opzione “vuoto” incrementa le performance già splendide del nuovo PentaPIN™ detector che permette analisi più veloci e limiti di rivelabilità migliori. Lo strumento è configurato primariamente per le leghe di Alluminio le quali sono caratterizzate dal contenuto di Silicio o Magnesio. Per le leghe di Titanio ora è anche possibile la loro discriminazione anche per il contenuto di Alluminio.
Questa nuova versione consente di distinguere le leghe di Alluminio più diffuse, per esempio la serie 5000 e la 4000. L’ X-MET3000TXV+ può inoltre fare le stesse analisi possibili con la versione standard dell’analizzatore X-MET3000TX+ per tutte le altre leghe (nichel, acciai inox, base rame, ecc.)
Con gli analizzatori XRF tradizionali, l’identificazione di lega è stata basata sulla misura degli elementi più pesanti perché gli quelli più leggeri, quali il Magnesio, l’Alluminio e il Silicio producono Raggi X con bassa energia che non riescono a passare attraverso l’aria. La pompa a vuoto portatile dell’ X-MET3000TXV+ estrae l’aria intorno alla zona di analisi, rendendo possibile l’analisi di questi elementi,.
A ciò va rimarcato che con l’uso del nuovo detector PentaPIN™ – basato sull’ultra collaudata esperienza di Oxford I. nella tecnologia PentaFET® – oltre a migliorare i limiti di rivelabilità degli elementi, consente di ottenere le stesse performance in un terzo del tempo rispetto al passato con lo standard detector Si-PIN.
X-MET3000TXV+ Il nuovo analizzatore portatile per l’analisi anche
dei metalli leggeri nel campo spaziale
ed aeronautico:

Oxford Instruments ha lanciato un nuovo, portatile analizzatore X-Ray Fluorescence (XRF) dotato di pompa a vuoto per la cernita rapida di elementi di alto valore per l’industria del recupero dei metalli. L’ X-MET3000TXV+ può ora misurare il Silicio ed il Magnesio in leghe di Alluminio e l’Alluminio in leghe di Titanio precedentemente non misurabili con sistemi XRF portatili. Con una pressione del pulsante grilletto, il leggero X-MET3000TXV+ fornisce risultati ancora più rapidi per la accurata identificazione della lega oltre che una dettagliata analisi quantitativa della composizione dei campioni.
Con questo sistema non viene fatto uso di contenitori di gas compresso da trasportare. Si eliminano i costi di consumabili. Inoltre il numero d’analisi non è limitato dall’autonomia delle bombole. La pompa a vuoto è piccola ed efficiente e non ha valvole esterne che potrebbero bloccarsi in condizioni polverose.
La nuova opzione “vuoto” incrementa le performance già splendide del nuovo PentaPIN™ detector che permette analisi più veloci e limiti di rivelabilità migliori. Lo strumento è configurato primariamente per le leghe di Alluminio le quali sono caratterizzate dal contenuto di Silicio o Magnesio. Per le leghe di Titanio ora è anche possibile la loro discriminazione anche per il contenuto di Alluminio.
Questa nuova versione consente di distinguere le leghe di Alluminio più diffuse, per esempio la serie 5000 e la 4000. L’ X-MET3000TXV+ può inoltre fare le stesse analisi possibili con la versione standard dell’analizzatore X-MET3000TX+ per tutte le altre leghe (nichel, acciai inox, base rame, ecc.)

Con gli analizzatori XRF tradizionali, l’identificazione di lega è stata basata sulla misura degli elementi più pesanti perché gli quelli più leggeri, quali il Magnesio, l’Alluminio e il Silicio producono Raggi X con bassa energia che non riescono a passare attraverso l’aria. La pompa a vuoto portatile dell’ X-MET3000TXV+ estrae l’aria intorno alla zona di analisi, rendendo possibile l’analisi di questi elementi,.
A ciò va rimarcato che con l’uso del nuovo detector PentaPIN™ – basato sull’ultra collaudata esperienza di Oxford I. nella tecnologia PentaFET® – oltre a migliorare i limiti di rivelabilità degli elementi, consente di ottenere le stesse performance in un terzo del tempo rispetto al passato con lo standard detector Si-PIN.

X-MET3000TXS+ per la misura dei metalli pesanti nei terreni

Analizzatore XRF portatile, leggero e facile da usare specifico per analisi veloci ed affidabili di metalli pesanti in terreni e aree contaminate. Adatto anche per analisi di minerali su campo, direttamente in miniera.
Oxford Instruments ha incorporato la tecnologia PentaFET® technology nell’ X-MET3000TXS+.
Il nuovo detector PentaPIN™ nell’ X-MET3000TXS+ garantisce analisi più rapide e limiti di rivelabilità più bassi per tutti gli elementi.
· Immediata, accurata e sicura identificazione di elemeti inquinanti e rapida definizione dei limiti di “hotspots”.
· Decisioni Go/no-Go con l’aiuto dell’allarme configurabile dall’utente.
· Tutti gli elementi pesanti nei terreni in una singola analisi: Pb, As, Cr, Cu, Zn, Ni, Cd, Co, Se, Mo, Hg, Sb, Ag, Ba.
· Il limiti di rivelabilità di tutti gli elementi variano tipicamente da 5 – 30 ppm.
· I risultati vengono memorizzati su memory card e possono essere trasferiti ad un PC per poi essere trasferiti facilmente in documenti personalizzabili.
· Rispetta completamente il metodo US EPA 6200 per lo screening dei terreni.
· Viene normalmente utilizzato direttamente su campo, sulla superficie sul terreno, per eseguire una scansione rapida.
· A seconda degli elementi di interesse e dalla accuratezza richiesta, una misura richiede tipicamente da 10 a 120 secondi.
· Richiede un minimo training.
· Grazie alle sue doti di robustezza ed affidabilità, il tubo RX vanta 5 anni di garanzia.
· Ideale per operare sia in laboratorio che sul sito.
Metodi memorizzati
· Calibrazione Parametri Fondamentali (Fundamental Parameter – FP).
· Calibrazioni Empiriche (con set di campioni di riferimento).
· Possibilità di calibrazioni dedicate empiriche.
Analisi di minerali nell’industria mineraria.
· Esplorazione Geochimica.
· Mappatura delle concessioni minerarie.
· Ottimizzazione degli scavi.
Dimostrata affidabilità.
· Garanzia di 5 anni per il tubo RX e 2 anni per l’intero strumento.

 

X-MET3000TXR+ per verifiche di conformità secondo direttiva RAEE
RoHS e il Controllo Qualità di differenti componenti
e materiali

Analisi rapide quantitative di tutti gli elementi sotto restrizione: cadmio (Cd), piombo (Pb), mercurio (Hg)
Per quanto riguarda la forma esavalente del Cromo (Cr6+), del bifenile polibrominato (PBB) e del difenil etere (PBDE) la tecnica XRF consente solo la determinazione totale degli elementi Cromo e Bromo.

L’estrema portabilità dello Spettrometro X-MET3000TXR+ permette di eseguire analisi direttamente sul sito
Consente cernite rapide per definire se un materiale contiene, oppure non, Piombo, in secondi
Cernita per contenuto di Pb e Cd in parti di plastica
Per il recupero delle plastiche, in pochi secondi distingue il PVC o plastiche contenenti Br
Analizza campioni grandi e piccoli, in movimento o rotanti. Qualunque dimensione e forma dei campioni.
Rapidi controlli di qualità direttamente nel sito di produzione analizzando anche vari altri elementi come Ag, Cu, Sb, Bi ecc. nelle saldature e Cl, Ti, Zn, Se ecc. nelle plastiche

Il sistema analizza:
· Componenti, connettori, schede elettroniche per la presenza o assenza di Pb
· Saldature – tutti materiali che verranno utilizzati per le saldature, in forma di barre o altro, potranno essere analizzati per verificare l’ammontare di Sn, Pb, Cu, Fe, Ag, e Bi
· Polimeri – analisi di Cd, Pb, Br, Hg e Cr, ma anche altri elementi di interesse per epossidiche o da stampo quali, Cl, Ti, Fe, Zn, Ni ecc.
· I rivestimenti dei contenitori, rack, rivetti ecc. In particolare la Cromatura

Caratteristiche addizionali
· 5 anni di garanzia estesa al tubo RX
· Minimo training operatore
· Non richiede speciali conoscenze sulla tecnica XRF
· Rilevazione automatica del tipo di materiale e uso del metodo più appropriato
· Interfaccia utente intuitiva
· Metodo dei Parametri Fondamentali (FP) e calibrazioni classiche empiriche
· Metodo PASSA/nonPASSA programmabile

Supporto da banco per X-MET3000TXR+

Lo spettrometro X-MET3000TXR+ può essere usato con un nuovo supporto da banco con un ampia camera d’analisi con chiusure di sicurezza. Questo permette di posizionare meglio ampie parti tipiche dei controlli RoHS sulla finestra di misura in tutta sicurezza

Tutti gli spettrometri portatili X-MET 3000TX+ possono essere configurati ad hoc per l’analisi di altri tipi di materiali solidi o liquidi.

Grazie alla possibilità di archiviare gli spettri di emissione XRF e il loro facile trasferimento su PC, è possibile eseguire studi elementari non distruttivi di oggetti antichi, quali pitture, monumenti, oggetti di interesse archeologico.

Sono possibili anche analisi geologiche di minerali direttamente su campo.

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