Oxford Serie X-MET8000

Oxford Serie X-MET8000

Ad oggi, niente di più tecnologico si potrebbe immaginare contenuto all’interno di uno Spettrometro ED XRF portatile. Leggerezza, compattezza, durata delle batterie, performance analitiche sempre più simili a quelle di apparati da laboratorio, rendono il nuovo...

Oxford X-Strata920

L’Oxford X-Strata920 è l’ultimo nato in casa Oxford Instruments della linea degli spettrometri XRF da banco per l’analisi e la misura di riporti galvanici e films. Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio. Lo strumento é...

Oxford X-Strata 980

– Oxford X-Strata 980 (Fuori Produzione) Lo X-Strata 980 è uno strumento progettato per la misura dello spessore di coatings metallici e della concentrazione di elementi in traccia. E’ uno spettrometro XRF in grado di quantificare gli elementi RAEE (RoHS,...

Oxford CMI 243

– Oxford CMI 243 Il misuratore di spessori Oxford CMI 243 è uno strumento versatile progettato per la misura dello spessore di rivestimenti metallici su substrati in ferro come, ad esempio, lo strato di zincatura. Il CMI 243 usa una sola sonda e non necessita di...

Oxford CMI 511

Il CMI511 è uno strumento portatile e robusto, capace di misurare istantaneamente lo spessore di Cu dei fori piatti in schede elettroniche prima e dopo incisione. Il CMI511 lavora bene con schede elettroniche sia a singolo che doppio strato oltre che attraverso...

Oxford CMI233

– Oxford CMI233 La configurazione CMI233 permette l’analisi non distruttiva di coatings non-magnetici depositati su substrati magnetici (ferrosi) e di depositi di spessori non-conduttivi su substrati conduttivi (quali Al, Cu, si richiede una conducibilità fino...
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