Oxford Serie X-MET7000

La nuova serie degli analizzatori portatile XRF X-MET7000 è progettata per garantire alte prestazioni ed affidabilità, offrendo analisi veloci di materiali e bassi livelli di rilevabilità degli elementi di interesse. La serie Oxford X-MET7000 è adatta per: Positive material Identification (PMI); Cernita...

Oxford X-Supreme8000

- Oxford X-Supreme8000 X-Supreme 8000  è un compatto e potente spettrometro da banco a Fluorescenza di Raggi X in Dispersione di Energia (EDXRF). E’  destinato soprattutto al controllo di qualità dei processi di produzione industriale e viene fornito ottimizzato a pacchetto completo per...

Oxford X-MET5100

L’analizzatore portatile XRF, Oxford X-MET5100 è stato sostituito dal nuovo X-MET 7500. X-MET5100 combina due tecnologie sviluppate da Oxford Instruments che lo rendono unico; un rivelatore a stato solido Silicon Drifted Detector (SDD) e un potente ed affidabile Tubo RX a 45 kV. Queste due...

Oxford X-Strata 980

- Oxford X-Strata 980 Lo X-Strata 980 è uno strumento progettato per la misura dello spessore di coatings metallici e della concentrazione di elementi in traccia. E’ uno spettrometro XRF in grado di quantificare gli elementi RAEE (RoHS, IEC 62321) e di misurare spessori multipli di coatings secondo...

Oxford CMI 243

- Oxford CMI 243 Il misuratore di spessori Oxford CMI 243 è uno strumento versatile progettato per la misura dello spessore di rivestimenti metallici su substrati in ferro come, ad esempio, lo strato di zincatura. Il CMI 243 usa una sola sonda e non necessita di sonde multiple o standards per la...

Oxford CMI 760

Il CMI760 è uno strumento da banco adatto alla misura dello spessore di Cu su diverse superfici e integra la sonda SRP4 facilmente sostituibile in caso di rottura. E’ disponibile un accessorio opzionale che garantisce la misura del rivestimento di Cu sui fori delle schede stampate....

Oxford CMI 563

Il CMI563 è progettato ad hoc per la misura dello spessore di Cu su fogli rigidi o flessibili, a singola o doppia faccia e su schede PCB multilayer. Il CMI563 è dotato di sonda di misura con tecnologia a microresistenza, tecnologia più adatta ed efficiente per ottenere risultati accurati sullo spessore ...

Oxford CMI 511

Il CMI511 è uno strumento portatile e robusto, capace di misurare istantaneamente lo spessore di Cu dei fori piatti in schede elettroniche prima e dopo incisione. Il CMI511 lavora bene con schede elettroniche sia a singolo che doppio strato oltre che attraverso resistenze in stagno e/o stagno/piombo. Una...

Oxford CMI233

- Oxford CMI233 La configurazione CMI233 permette l’analisi non distruttiva di coatings non-magnetici depositati su substrati magnetici (ferrosi) e di depositi di spessori non-conduttivi su substrati conduttivi (quali Al, Cu, si richiede una conducibilità fino al 100% della scala IACS). Sono disponibili...

Oxford CMI 165

Il CMI 165 è uno spessimetro portatile adatto alla misura di spessori di Cu con compensazione di temperatura. Le misure su Cu possono dipendere fortemente dalla temperatura del campione. Il CMI 165 misura lo spessore di Cu includendo anche gli effetti del gradiente termico assicurando così misure precise...

Oxford CMI 95M

Il CMI 95M è uno spessimetro a batterie adatto all’analisi dello spessore di Cu su circuiti stampati in PCB in meno di 1 secondo. Il CMI 95M è calibrato in fabbrica, non richiede standards aggiuntivi ed è molto semplice da usare: semplicemente appoggiando lo spessimetro sul campione incognito, in...

Oxford CMI 153

- Oxford CMI 153 Piccolo e versatile, il CMI 153misura lo spessore dei rivestimenti su materiali ferrosi e non ferrosi in maniera semplice. Il CMI153 non necessita di calibrazioni e neanche di particolare training per l’operatore. Il CMI 153 rileva il tipo di substrato e seleziona automaticamente il...

Oxford CMI 900

  - Oxford CMI 900 Il misuratore di spessori Oxford CMI 900 è uno strumento pensato e progettato per misurare lo spessore e/o la composizione chimica di coatings, rivestimenti e films. Gli spessori devono contenere elementi chimici con peso atomico superiore al Titanio.Lo strumento é conforme alle...

Oxford MDX1000

Spettrometro WDXRF simultaneo, media potenza (200W) Robusto spettrometro simultaneo WD-XRF per analisi routinarie. Ideale per grossi carichi di lavoro, 7 giorni alla settimana, 24 ore su 24 nei laboratri industriali. . . E’ l’unico spettrometro al mondo che può utilizzare entrambe le tecniche...

Oxford Lab-X 3500

Spettrometro ED XRF da banco Analizzatore ED XRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) da banco, robusto ed estremamente affidabile. Ideale per lavorare in qualsiasi ambiente e con qualsiasi operatore. Destinato soprattutto al Controllo di Qualità intensivo. Caratteristiche • Semplice, rapido,...